AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)(shu)与人(ren)工(gong)智(zhi)(zhi)能技(ji)(ji)术(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)相互集成可(ke)以(yi)(yi)明显提高(gao)产(chan)品(pin)质(zhi)(zhi)量和(he)(he)(he)制(zhi)造效(xiao)(xiao)率(lv)。以(yi)(yi)下(xia)是一些集成方法(fa)和(he)(he)(he)效(xiao)(xiao)益(yi)：自(zi)(zi)动(dong)缺陷(xian)检(jian)测(ce)(ce)：利用人(ren)工(gong)智(zhi)(zhi)能的(de)(de)(de)(de)图像处理(li)和(he)(he)(he)深度学(xue)(xue)习算(suan)(suan)法(fa)，可(ke)以(yi)(yi)训练(lian)模型(xing)来(lai)自(zi)(zi)动(dong)检(jian)测(ce)(ce)并(bing)分类不同类型(xing)的(de)(de)(de)(de)缺陷(xian)。通(tong)过与AOI系统相结合，可(ke)以(yi)(yi)实(shi)现实(shi)时(shi)(shi)、准确的(de)(de)(de)(de)自(zi)(zi)动(dong)缺陷(xian)检(jian)测(ce)(ce)，从而提高(gao)产(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)质(zhi)(zhi)量检(jian)测(ce)(ce)效(xiao)(xiao)率(lv)。智(zhi)(zhi)能优(you)化参(can)(can)数(shu)设置：人(ren)工(gong)智(zhi)(zhi)能技(ji)(ji)术(shu)(shu)可(ke)以(yi)(yi)分析(xi)大量的(de)(de)(de)(de)数(shu)据并(bing)学(xue)(xue)习较好的(de)(de)(de)(de)参(can)(can)数(shu)设置，包括曝(pu)光(guang)时(shi)(shi)间、对比度、灵敏度等。这有(you)助于(yu)自(zi)(zi)动(dong)优(you)化AOI系统的(de)(de)(de)(de)参(can)(can)数(shu)，以(yi)(yi)达到较好的(de)(de)(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)效(xiao)(xiao)果和(he)(he)(he)质(zhi)(zhi)量控制(zhi)。预测(ce)(ce)性维(wei)(wei)护(hu)：通(tong)过分析(xi)AOI系统的(de)(de)(de)(de)运行数(shu)据和(he)(he)(he)历史故障情(qing)况，人(ren)工(gong)智(zhi)(zhi)能技(ji)(ji)术(shu)(shu)可(ke)以(yi)(yi)建立预测(ce)(ce)模型(xing)来(lai)预测(ce)(ce)设备的(de)(de)(de)(de)故障概率(lv)和(he)(he)(he)维(wei)(wei)护(hu)需求。这使得(de)制(zhi)造企业(ye)能够进行预防性维(wei)(wei)护(hu)，及时(shi)(shi)修(xiu)复潜(qian)在(zai)的(de)(de)(de)(de)问(wen)题，减(jian)少(shao)停机(ji)时(shi)(shi)间和(he)(he)(he)生(sheng)(sheng)产(chan)成本(ben)。过程(cheng)优(you)化和(he)(he)(he)改(gai)进：通(tong)过人(ren)工(gong)智(zhi)(zhi)能技(ji)(ji)术(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)数(shu)据分析(xi)和(he)(he)(he)模式(shi)识别，可(ke)以(yi)(yi)识别生(sheng)(sheng)产(chan)过程(cheng)中(zhong)的(de)(de)(de)(de)潜(qian)在(zai)问(wen)题和(he)(he)(he)瓶(ping)颈，并(bing)提供优(you)化建议。这有(you)助于(yu)制(zhi)造企业(ye)改(gai)进生(sheng)(sheng)产(chan)流程(cheng)，提高(gao)生(sheng)(sheng)产(chan)效(xiao)(xiao)率(lv)和(he)(he)(he)产(chan)品(pin)质(zhi)(zhi)量。AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)(shu)还有(you)很大提升(sheng)空间，例(li)如多维(wei)(wei)成像和(he)(he)(he)AI可(ke)以(yi)(yi)不断优(you)化算(suan)(suan)法(fa)减(jian)少(shao)误(wu)判率(lv)。辽(liao)宁AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)加工(gong)设备应用

AOI光学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)测(ce)设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)难(nan)度因设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)型号和(he)个人经(jing)验(yan)(yan)而(er)(er)异。一(yi)(yi)般来(lai)(lai)说(shuo)，现代的(de)(de)(de)(de)(de)(de)AOI设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)通常具有(you)(you)用户友好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)和(he)自(zi)动化功能(neng)(neng)(neng)，使得(de)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)变得(de)相对(dui)简单。以(yi)下是一(yi)(yi)些可(ke)(ke)能(neng)(neng)(neng)影响操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)难(nan)度的(de)(de)(de)(de)(de)(de)因素：设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)型号：不同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)AOI设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)具有(you)(you)不同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)功能(neng)(neng)(neng)和(he)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)界面(mian)。一(yi)(yi)些设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)可(ke)(ke)能(neng)(neng)(neng)提(ti)(ti)供更(geng)简单和(he)直观的(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)，而(er)(er)其他设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)可(ke)(ke)能(neng)(neng)(neng)具有(you)(you)更(geng)多高级功能(neng)(neng)(neng)，需要更(geng)多技(ji)术(shu)(shu)知识和(he)经(jing)验(yan)(yan)来(lai)(lai)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)。操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)人员的(de)(de)(de)(de)(de)(de)经(jing)验(yan)(yan)水平：熟练的(de)(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)人员可(ke)(ke)能(neng)(neng)(neng)更(geng)容易掌握(wo)AOI设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)功能(neng)(neng)(neng)和(he)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)步骤(zhou)。具有(you)(you)电子组装(zhuang)、焊(han)接或检(jian)(jian)(jian)测(ce)经(jing)验(yan)(yan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)人员可(ke)(ke)能(neng)(neng)(neng)更(geng)容易理解设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)工作(zuo)(zuo)原理和(he)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)流程。培训(xun)(xun)(xun)和(he)技(ji)术(shu)(shu)支持：提(ti)(ti)供详细培训(xun)(xun)(xun)和(he)技(ji)术(shu)(shu)支持的(de)(de)(de)(de)(de)(de)设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)供应(ying)商可(ke)(ke)以(yi)帮助操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)人员更(geng)快(kuai)地掌握(wo)设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)。培训(xun)(xun)(xun)可(ke)(ke)以(yi)包括设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)基本操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)、故障排查和(he)维护等方面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)知识。总体而(er)(er)言，对(dui)于有(you)(you)一(yi)(yi)定(ding)电子制造经(jing)验(yan)(yan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)人员来(lai)(lai)说(shuo)，学(xue)(xue)习和(he)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)AOI光学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)测(ce)设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)可(ke)(ke)能(neng)(neng)(neng)并不太困难(nan)。然而(er)(er)，为(wei)了确保准确的(de)(de)(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)测(ce)结(jie)果，仍然需要适当的(de)(de)(de)(de)(de)(de)培训(xun)(xun)(xun)和(he)实(shi)践，并且(qie)熟悉设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)手册以(yi)了解特(te)定(ding)设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)特(te)点和(he)要求(qiu)。陕(shan)西AIAOI光学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)测(ce)设(she)(she)备(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)厂AOI光学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)测(ce)技(ji)术(shu)(shu)可(ke)(ke)以(yi)作(zuo)(zuo)为(wei)一(yi)(yi)种可(ke)(ke)靠的(de)(de)(de)(de)(de)(de)品(pin)质保证手段，提(ti)(ti)高产品(pin)市场(chang)竞争力。

AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)设(she)备(bei)在生(sheng)产线上扮演着重(zhong)要的(de)作用，主要包括以(yi)下几个方(fang)面：自动化(hua)(hua)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)：AOI设(she)备(bei)能(neng)够自动进(jin)行(xing)光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)，实(shi)现(xian)(xian)(xian)对(dui)制造过(guo)程(cheng)(cheng)中的(de)产品(pin)质(zhi)(zhi)量进(jin)行(xing)快(kuai)速、准确的(de)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)。与传(chuan)统(tong)的(de)人工(gong)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)相比，AOI可(ke)以(yi)很(hen)大程(cheng)(cheng)度提(ti)高(gao)(gao)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)的(de)速度和(he)(he)(he)效(xiao)率(lv)，并降低人工(gong)差错的(de)风险。缺(que)陷检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)：AOI设(she)备(bei)能(neng)够检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)产品(pin)表(biao)面和(he)(he)(he)组件上的(de)缺(que)陷、错误和(he)(he)(he)异(yi)常，如(ru)焊(han)接问题(ti)、元(yuan)件偏移、短路、开路、错位、损伤(shang)等。通(tong)过(guo)及时发现(xian)(xian)(xian)和(he)(he)(he)排除这些问题(ti)，可(ke)以(yi)提(ti)高(gao)(gao)产品(pin)的(de)质(zhi)(zhi)量可(ke)靠性(xing)，减少(shao)不良(liang)品(pin)率(lv)。质(zhi)(zhi)量控制：AOI系统(tong)可(ke)以(yi)实(shi)时监(jian)测(ce)(ce)(ce)制造过(guo)程(cheng)(cheng)中的(de)产品(pin)质(zhi)(zhi)量，并提(ti)供准确的(de)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)结(jie)果和(he)(he)(he)统(tong)计分析。这可(ke)以(yi)帮助制造商识(shi)别(bie)生(sheng)产过(guo)程(cheng)(cheng)中的(de)问题(ti)，并采取相应的(de)措(cuo)施进(jin)行(xing)改(gai)进(jin)和(he)(he)(he)纠正，以(yi)确保产品(pin)的(de)一致性(xing)和(he)(he)(he)符合质(zhi)(zhi)量标准。生(sheng)产效(xiao)率(lv)提(ti)升：由于AOI设(she)备(bei)的(de)自动化(hua)(hua)和(he)(he)(he)高(gao)(gao)速检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)能(neng)力，可(ke)以(yi)很(hen)大程(cheng)(cheng)度减少(shao)人工(gong)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)的(de)时间和(he)(he)(he)成本(ben)。此外，AOI系统(tong)还可(ke)以(yi)与其他生(sheng)产设(she)备(bei)和(he)(he)(he)系统(tong)集成，实(shi)现(xian)(xian)(xian)生(sheng)产线的(de)高(gao)(gao)效(xiao)运行(xing)和(he)(he)(he)协调(diao)，从而提(ti)高(gao)(gao)生(sheng)产效(xiao)率(lv)。

AOI光学检(jian)测(ce)(ce)设备(bei)在电子行业中(zhong)(zhong)应(ying)用普遍的(de)(de)(de)(de)(de)原因如下：高效自(zi)(zi)动(dong)(dong)(dong)化检(jian)测(ce)(ce)：AOI设备(bei)利用计算机视觉和(he)(he)(he)(he)(he)图像处(chu)理技(ji)(ji)术，可(ke)以(yi)高速自(zi)(zi)动(dong)(dong)(dong)地(di)扫描和(he)(he)(he)(he)(he)分(fen)析(xi)产(chan)品(pin)(pin)表(biao)面，与事(shi)先定义的(de)(de)(de)(de)(de)合格标准进(jin)(jin)行比较(jiao)。相比于人(ren)工检(jian)测(ce)(ce)，AOI设备(bei)能够以(yi)更高的(de)(de)(de)(de)(de)速度和(he)(he)(he)(he)(he)精度进(jin)(jin)行检(jian)测(ce)(ce)，提高了(le)生(sheng)产(chan)效率和(he)(he)(he)(he)(he)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)控制的(de)(de)(de)(de)(de)一致(zhi)性(xing)。缺(que)陷检(jian)测(ce)(ce)能力(li)(li)：AOI设备(bei)可(ke)以(yi)检(jian)测(ce)(ce)和(he)(he)(he)(he)(he)识别各(ge)种类型(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)陷，包括裂纹(wen)、焊接问题(ti)、短路、错位、偏移(yi)等。它能够在高速运行的(de)(de)(de)(de)(de)生(sheng)产(chan)线上准确地(di)捕捉(zhuo)到微(wei)小的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)陷，提高了(le)产(chan)品(pin)(pin)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)可(ke)靠性(xing)和(he)(he)(he)(he)(he)一致(zhi)性(xing)。自(zi)(zi)动(dong)(dong)(dong)化数据(ju)分(fen)析(xi)：AOI设备(bei)不(bu)只可(ke)以(yi)检(jian)测(ce)(ce)缺(que)陷，还可(ke)以(yi)记录(lu)和(he)(he)(he)(he)(he)分(fen)析(xi)检(jian)测(ce)(ce)数据(ju)。通(tong)(tong)过(guo)(guo)对(dui)大量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)图像和(he)(he)(he)(he)(he)数据(ju)进(jin)(jin)行统(tong)计和(he)(he)(he)(he)(he)分(fen)析(xi)，可(ke)以(yi)发(fa)(fa)现(xian)缺(que)陷产(chan)生(sheng)的(de)(de)(de)(de)(de)原因和(he)(he)(he)(he)(he)规律，为产(chan)品(pin)(pin)设计、工艺改进(jin)(jin)和(he)(he)(he)(he)(he)生(sheng)产(chan)过(guo)(guo)程(cheng)优化提供(gong)有价值(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)信息。质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)控制和(he)(he)(he)(he)(he)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)保证：AOI设备(bei)可(ke)以(yi)在生(sheng)产(chan)过(guo)(guo)程(cheng)中(zhong)(zhong)实(shi)时监测(ce)(ce)和(he)(he)(he)(he)(he)控制产(chan)品(pin)(pin)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)，及时发(fa)(fa)现(xian)和(he)(he)(he)(he)(he)修复潜在缺(que)陷，减(jian)少(shao)不(bu)合格品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)产(chan)生(sheng)。它可(ke)以(yi)提供(gong)详细的(de)(de)(de)(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)报告和(he)(he)(he)(he)(he)数据(ju)分(fen)析(xi)，支持追溯和(he)(he)(he)(he)(he)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)保证的(de)(de)(de)(de)(de)需求。节约(yue)成本：尽(jin)早发(fa)(fa)现(xian)和(he)(he)(he)(he)(he)纠正产(chan)品(pin)(pin)缺(que)陷可(ke)以(yi)减(jian)少(shao)不(bu)良(liang)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)数量(liang)(liang)(liang)和(he)(he)(he)(he)(he)废品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)产(chan)生(sheng)，降低了(le)成本。同时，AOI设备(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)自(zi)(zi)动(dong)(dong)(dong)化和(he)(he)(he)(he)(he)高效率特(te)点，也(ye)可(ke)以(yi)减(jian)少(shao)人(ren)力(li)(li)资源的(de)(de)(de)(de)(de)需求，提高生(sheng)产(chan)线的(de)(de)(de)(de)(de)效率和(he)(he)(he)(he)(he)产(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)制造(zao)一致(zhi)性(xing)。AOI光学检(jian)测(ce)(ce)技(ji)(ji)术可(ke)以(yi)快速判(pan)断元器(qi)件(jian)焊点的(de)(de)(de)(de)(de)连通(tong)(tong)性(xing)，并(bing)排除有问题(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)产(chan)品(pin)(pin)直接入库对(dui)质(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)影响(xiang)。

AOI光学(xue)检(jian)测(ce)设(she)(she)(she)备(bei)可以对(dui)许多参数进(jin)行(xing)检(jian)测(ce)和(he)分析，具体(ti)(ti)(ti)取决于(yu)设(she)(she)(she)备(bei)的(de)功能和(he)配置(zhi)。以下是一些(xie)常见的(de)参数：缺陷检(jian)测(ce)：AOI设(she)(she)(she)备(bei)可以检(jian)测(ce)和(he)分析产品(pin)表面上的(de)各种缺陷，如划痕、裂纹(wen)、凹陷、脱落(luo)等(deng)(deng)。尺(chi)寸和(he)形状(zhuang)：AOI设(she)(she)(she)备(bei)可以精确(que)测(ce)量产品(pin)的(de)尺(chi)寸、形状(zhuang)和(he)轮廓，以确(que)定(ding)(ding)是否符合(he)规(gui)(gui)格要求。焊(han)点和(he)焊(han)盘检(jian)测(ce)：对(dui)于(yu)电(dian)(dian)子制(zhi)造(zao)行(xing)业，AOI设(she)(she)(she)备(bei)可以检(jian)测(ce)焊(han)点和(he)焊(han)盘的(de)质量，包括焊(han)缝(feng)的(de)完整(zheng)性、焊(han)盘的(de)引脚(jiao)位(wei)置(zhi)和(he)对(dui)齐(qi)等(deng)(deng)。元件(jian)及组(zu)(zu)装件(jian)位(wei)置(zhi)：AOI设(she)(she)(she)备(bei)可以检(jian)测(ce)和(he)验证元件(jian)以及整(zheng)体(ti)(ti)(ti)组(zu)(zu)装的(de)位(wei)置(zhi)是否正确(que)，例如电(dian)(dian)路板上的(de)元器(qi)件(jian)位(wei)置(zhi)、装配件(jian)的(de)位(wei)置(zhi)和(he)定(ding)(ding)位(wei)等(deng)(deng)。判定(ding)(ding)分类(lei)：AOI设(she)(she)(she)备(bei)可以根(gen)据预先设(she)(she)(she)定(ding)(ding)的(de)规(gui)(gui)则和(he)标(biao)准(zhun)，对(dui)产品(pin)进(jin)行(xing)分类(lei)和(he)判定(ding)(ding)，例如良品(pin)、不良品(pin)、缺陷严(yan)重程(cheng)度等(deng)(deng)。AOI光学(xue)检(jian)测(ce)技术在半导体(ti)(ti)(ti)制(zhi)造(zao)中，能够(gou)检(jian)测(ce)芯片(pian)道路的(de)瑕疵和(he)污染物，保证质量。辽(liao)宁AOI光学(xue)检(jian)测(ce)加工(gong)设(she)(she)(she)备(bei)应用

AOI光(guang)学检测技术(shu)有多种形(xing)式，包(bao)括(kuo)2D、3D和(he)X射线成像等等。辽宁(ning)AOI光(guang)学检测加工设备应用

AOI光学(xue)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)统通常(chang)是(shi)(shi)非接(jie)触式的(de)，不(bu)(bu)会(hui)在(zai)(zai)测(ce)(ce)试对象上(shang)留(liu)下较为(wei)久(jiu)(jiu)(jiu)痕(hen)迹(ji)(ji)(ji)。它使(shi)用光学(xue)传感(gan)器或(huo)相(xiang)机来(lai)(lai)进(jin)行检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)，通过光线的(de)反(fan)射、散(san)射、透射等(deng)特性(xing)(xing)来(lai)(lai)获(huo)取(qu)信息，而不(bu)(bu)会(hui)对被(bei)测(ce)(ce)物(wu)体(ti)产(chan)生物(wu)理损伤。AOI系(xi)统可以对测(ce)(ce)试对象进(jin)行外(wai)观(guan)检(jian)(jian)(jian)查、形(xing)状测(ce)(ce)量(liang)、颜色识别(bie)等(deng)，而这些(xie)(xie)操作不(bu)(bu)需要直接(jie)接(jie)触被(bei)测(ce)(ce)物(wu)体(ti)。它可以扫描物(wu)体(ti)的(de)表面或(huo)传感(gan)器获(huo)取(qu)样品的(de)图(tu)像(xiang)和(he)数据，并对其进(jin)行分析和(he)处理。需要注意的(de)是(shi)(shi)，虽然AOI系(xi)统不(bu)(bu)会(hui)在(zai)(zai)测(ce)(ce)试对象上(shang)留(liu)下较为(wei)久(jiu)(jiu)(jiu)痕(hen)迹(ji)(ji)(ji)，但在(zai)(zai)某些(xie)(xie)情况下，可能会(hui)产(chan)生暂时(shi)性(xing)(xing)的(de)接(jie)触标记或(huo)指示(shi)物(wu)，例如使(shi)用辅(fu)助(zhu)工具(ju)或(huo)夹具(ju)时(shi)，这些(xie)(xie)痕(hen)迹(ji)(ji)(ji)通常(chang)是(shi)(shi)可清理的(de)，并不(bu)(bu)对被(bei)测(ce)(ce)物(wu)体(ti)产(chan)生较为(wei)久(jiu)(jiu)(jiu)性(xing)(xing)影响。总(zong)之，AOI光学(xue)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)统以非接(jie)触方(fang)式进(jin)行检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)，不(bu)(bu)会(hui)在(zai)(zai)测(ce)(ce)试对象上(shang)留(liu)下较为(wei)久(jiu)(jiu)(jiu)痕(hen)迹(ji)(ji)(ji)，因此(ci)对于对外(wai)观(guan)和(he)形(xing)状敏感(gan)的(de)物(wu)体(ti)来(lai)(lai)说(shuo)，是(shi)(shi)一种安全可靠的(de)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)方(fang)法。辽宁(ning)AOI光学(xue)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)加工设备应用

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