AOI检(jian)测(ce)(ce)(ce)设备的(de)(de)优点1.编程(cheng)简单AOI通常是把贴(tie)片机编程(cheng)完成(cheng)(cheng)(cheng)后自(zi)动生(sheng)成(cheng)(cheng)(cheng)的(de)(de)TXT辅助文本文件(jian)转(zhuan)换成(cheng)(cheng)(cheng)所(suo)需(xu)(xu)格式(shi)的(de)(de)文件(jian)，从中(zhong)AOI获取位置号、元(yuan)件(jian)系列号、X坐标、Y坐标、元(yuan)件(jian)旋转(zhuan)方向这(zhei)(zhei)5个(ge)参(can)数，然后系统会自(zi)动产(chan)生(sheng)电路的(de)(de)布局(ju)图，确(que)定各元(yuan)件(jian)的(de)(de)位置参(can)数及所(suo)需(xu)(xu)检(jian)测(ce)(ce)(ce)的(de)(de)参(can)数。完成(cheng)(cheng)(cheng)后，再根(gen)据工(gong)(gong)艺要求对(dui)(dui)各元(yuan)件(jian)的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)(ce)参(can)数进(jin)(jin)行(xing)(xing)微调。2、操作(zuo)(zuo)容(rong)易(yi)由于AOI基(ji)本上都采用(yong)了(le)(le)高度智(zhi)能(neng)(neng)的(de)(de)软件(jian)，所(suo)以(yi)并不(bu)需(xu)(xu)要操作(zuo)(zuo)人员具有丰富的(de)(de)专业知(zhi)识即可进(jin)(jin)行(xing)(xing)操作(zuo)(zuo)。3、品质把控(kong)可以(yi)及时(shi)发现(xian)和(he)反馈定点缺(que)陷，并分析(xi)制程(cheng)问题,减少(shao)PCB板报废发生(sheng)。4、智(zhi)能(neng)(neng)自(zi)动能(neng)(neng)够智(zhi)能(neng)(neng)甄别所(suo)生(sheng)产(chan)的(de)(de)料号，自(zi)动板厚(hou)侦(zhen)测(ce)(ce)(ce)，相机自(zi)动对(dui)(dui)焦，可搭(da)配机械手(shou)收板5、减少(shao)生(sheng)产(chan)成(cheng)(cheng)(cheng)本由于AOI可放置在(zai)回流炉(lu)前对(dui)(dui)PCB进(jin)(jin)行(xing)(xing)检(jian)测(ce)(ce)(ce)，可及时(shi)发现(xian)由各种原因(yin)引起的(de)(de)缺(que)陷，而不(bu)必等(deng)到PCB过(guo)了(le)(le)回流炉(lu)后才进(jin)(jin)行(xing)(xing)检(jian)测(ce)(ce)(ce)，这(zhei)(zhei)就极大降低(di)了(le)(le)生(sheng)产(chan)成(cheng)(cheng)(cheng)本。AOI工(gong)(gong)作(zuo)(zuo)原理自(zi)动光学检(jian)测(ce)(ce)(ce)的(de)(de)光源分类？珠海半导体(ti)AOI检(jian)测(ce)(ce)(ce)设备功能(neng)(neng)

AOI光(guang)学检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)原理  AOI，即自动(dong)光(guang)学检(jian)(jian)(jian)(jian)查。它是自动(dong)检(jian)(jian)(jian)(jian)查经(jing)过(guo)波(bo)峰焊(han)(han)(han)以(yi)及回流焊(han)(han)(han)后的(de)(de)印(yin)刷电路板的(de)(de)焊(han)(han)(han)锡焊(han)(han)(han)接状况(kuang)和(he)实装情况(kuang)的(de)(de)装置。首先(xian)，机器通过(guo)内部的(de)(de)照明单元(yuan)，将焊(han)(han)(han)锡及元(yuan)器件分(fen)(fen)解成(cheng)不(bu)同的(de)(de)颜色(se)(se)。在(zai)制作检(jian)(jian)(jian)(jian)查程(cheng)序时，首先(xian)取一块标(biao)(biao)准(zhun)(zhun)板，对上面的(de)(de)各个(ge)元(yuan)器件的(de)(de)不(bu)同部分(fen)(fen)分(fen)(fen)别(bie)设(she)(she)(she)定(ding)合适的(de)(de)颜色(se)(se)参数。在(zai)进(jin)(jin)行检(jian)(jian)(jian)(jian)查时，机器将拍(pai)摄(she)到的(de)(de)标(biao)(biao)准(zhun)(zhun)板的(de)(de)图像(xiang)作为标(biao)(biao)准(zhun)(zhun)影像(xiang)，以(yi)设(she)(she)(she)定(ding)好的(de)(de)颜色(se)(se)参数作为标(biao)(biao)准(zhun)(zhun)。将被(bei)检(jian)(jian)(jian)(jian)查的(de)(de)基(ji)板的(de)(de)图像(xiang)与标(biao)(biao)准(zhun)(zhun)影像(xiang)进(jin)(jin)行对比(bi)，以(yi)设(she)(she)(she)定(ding)好的(de)(de)色(se)(se)参数为基(ji)准(zhun)(zhun)进(jin)(jin)行判别(bie)。河源精密AOI检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)设(she)(she)(she)备设(she)(she)(she)备厂家1、按(an)结(jie)构(gou)分(fen)(fen)类(lei)：简(jian)易型(xing)手动(dong)离(li)线AOI设(she)(she)(she)备，离(li)线AOI设(she)(she)(she)备，在(zai)线AOI设(she)(she)(she)备等；

由于贴(tie)片(pian)环节之后(hou)紧接(jie)着(zhe)回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)接(jie)环节，因此贴(tie)装(zhuang)之后(hou)的(de)(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)有(you)时(shi)(shi)被称为(wei)回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)前(qian)(qian)端检(jian)测(ce)(ce)，回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)前(qian)(qian)端检(jian)测(ce)(ce)从品质(zhi)保障(zhang)的(de)(de)(de)观点来看，由于在(zai)(zai)回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)炉(lu)内发生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)问题无(wu)法检(jian)测(ce)(ce)出(chu)而显得没(mei)有(you)任何意义，在(zai)(zai)回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)炉(lu)内，焊(han)锡熔化后(hou)具(ju)有(you)自纠(jiu)正(zheng)位移(yi)(yi)，所以(yi)焊(han)后(hou)基板上(shang)无(wu)法检(jian)测(ce)(ce)出(chu)贴(tie)装(zhuang)位移(yi)(yi)和(he)焊(han)锡印刷状(zhuang)态，但实际上(shang)回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)前(qian)(qian)端检(jian)测(ce)(ce)是品质(zhi)保障(zhang)的(de)(de)(de)重(zhong)点，回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)前(qian)(qian)各个部位的(de)(de)(de)元件(jian)贴(tie)装(zhuang)状(zhuang)况等在(zai)(zai)回(hui)(hui)流(liu)(liu)焊(han)后(hou)就无(wu)法检(jian)测(ce)(ce)出(chu)来的(de)(de)(de)信息都能一目(mu)了然。此时(shi)(shi)基板上(shang)没(mei)有(you)不定型的(de)(de)(de)东(dong)西，**适合(he)进(jin)行图象处理，且通过率非(fei)常高，检(jian)测(ce)(ce)过分(fen)苛刻而导致(zhi)的(de)(de)(de)误判也**减少。AOI检(jian)出(chu)问题后(hou)将(jiang)发出(chu)警报，由操作(zuo)员对基板进(jin)行目(mu)测(ce)(ce)确(que)认(ren)。缺件(jian)意外(wai)的(de)(de)(de)问题报告都可(ke)以(yi)通过维修镊(nie)子来纠(jiu)正(zheng)，在(zai)(zai)这一过程中，当目(mu)测(ce)(ce)操作(zuo)员对相同(tong)问题点进(jin)行反(fan)复(fu)(fu)多(duo)次修复(fu)(fu)作(zuo)业(ye)时(shi)(shi)，就会提请各生(sheng)(sheng)产(chan)设备(bei)负责人重(zhong)新(xin)确(que)认(ren)机(ji)器(qi)设定是否合(he)理，该信息的(de)(de)(de)反(fan)馈对生(sheng)(sheng)产(chan)质(zhi)量提高非(fei)常有(you)帮助，可(ke)在(zai)(zai)短时(shi)(shi)间内实现生(sheng)(sheng)产(chan)品质(zhi)的(de)(de)(de)飞跃性提高。

AOI的(de)(de)(de)发(fa)展(zhan)需(xu)求(qiu)集成(cheng)电(dian)路(lu)（IC）当然是(shi)现今人类工(gong)业制(zhi)造(zao)出来结构(gou)较为(wei)精细的(de)(de)(de)人造(zao)物之一，而除了以(yi)IC为(wei)主的(de)(de)(de)半导体(ti)制(zhi)造(zao)业，AOI亦(yi)在其(qi)他领(ling)域有(you)(you)很重要的(de)(de)(de)检测(ce)(ce)(ce)(ce)需(xu)求(qiu)。具(ju)体(ti)有(you)(you)以(yi)下几(ji)种示例：①微(wei)型(xing)元(yuan)件或(huo)(huo)结构(gou)的(de)(de)(de)形(xing)貌(mao)以(yi)及关键尺寸量测(ce)(ce)(ce)(ce)，典型(xing)应用就(jiu)是(shi)集成(cheng)电(dian)路(lu)、芯片的(de)(de)(de)制(zhi)造(zao)、封装等，既需(xu)要高(gao)(gao)(gao)精度(du)(du)又(you)需(xu)要高(gao)(gao)(gao)效率的(de)(de)(de)大量检测(ce)(ce)(ce)(ce)②精密(mi)零(ling)(ling)件与制(zhi)程(cheng)的(de)(de)(de)精密(mi)加工(gong)与检测(ce)(ce)(ce)(ce)，典型(xing)应用就(jiu)是(shi)针对工(gong)具(ju)机、航(hang)(hang)空航(hang)(hang)天器等高(gao)(gao)(gao)精度(du)(du)机械零(ling)(ling)件进行相(xiang)关的(de)(de)(de)粗糙度(du)(du)、表面形(xing)状等的(de)(de)(de)量测(ce)(ce)(ce)(ce)，具(ju)有(you)(you)高(gao)(gao)(gao)精度(du)(du)、量测(ce)(ce)(ce)(ce)条件多变等特点③生(sheng)物医学(xue)检测(ce)(ce)(ce)(ce)应用，典型(xing)应用就(jiu)是(shi)各(ge)式光学(xue)显(xian)微(wei)镜(jing)，结合相(xiang)关程(cheng)序编(bian)程(cheng)、AI即可辅助(zhu)判断相(xiang)关的(de)(de)(de)生(sheng)物、医学(xue)信息判断。④光学(xue)镜(jing)头或(huo)(huo)其(qi)他光学(xue)元(yuan)件的(de)(de)(de)像(xiang)差(cha)检测(ce)(ce)(ce)(ce)；详情欢迎来电(dian)咨询。AOI就(jiu)是(shi)自动光学(xue)检测(ce)(ce)(ce)(ce)，也是(shi)SMT贴(tie)片加工(gong)中(zhong)常(chang)用的(de)(de)(de)检测(ce)(ce)(ce)(ce)手段之一。

AOI就是(shi)自动(dong)(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)辨识系统,是(shi)英文(AutoOpticalInspection)的(de)缩(suo)写，国内(nei)叫(jiao)做(zuo)自动(dong)(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)仪，现在已经普(pu)遍(bian)应用在电子行业的(de)电路(lu)板(ban)(ban)组(zu)装(zhuang)(zhuang)(zhuang)生(sheng)产线的(de)外观检(jian)(jian)(jian)(jian)查并(bing)取代以往的(de)人(ren)工目检(jian)(jian)(jian)(jian)。AOI自动(dong)(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)设备(bei)的(de)基本(ben)(ben)原理是(shi)利用影像技(ji)术来(lai)(lai)比(bi)对(dui)待测(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)与标准影像是(shi)否有(you)过(guo)大的(de)差异来(lai)(lai)判断待测(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)有(you)否符合(he)标准，所(suo)以AOI的(de)好坏基本(ben)(ben)上(shang)也取决于其对(dui)影像的(de)解析度、成像能力与影像辨析技(ji)术。早期时候AOI自动(dong)(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)设备(bei)大多被(bei)拿来(lai)(lai)检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)IC(积体电路(lu))封(feng)装(zhuang)(zhuang)(zhuang)后(hou)的(de)表面(mian)印(yin)刷是(shi)否有(you)缺(que)陷，随(sui)着技(ji)术的(de)演(yan)进，现在则被(bei)拿来(lai)(lai)用在SMT组(zu)装(zhuang)(zhuang)(zhuang)线上(shang)检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)电路(lu)板(ban)(ban)上(shang)的(de)零(ling)件焊锡组(zu)装(zhuang)(zhuang)(zhuang)后(hou)的(de)品质状况，或(huo)是(shi)检(jian)(jian)(jian)(jian)查锡膏(gao)印(yin)刷后(hou)有(you)否符合(he)标准。AOI的(de)包含(han)情况以及(ji)三(san)种检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)方法，欢迎来(lai)(lai)电咨(zi)询！韶关销售AOI检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)设备(bei)销售公司

AOI是新兴起的一种(zhong)新型测(ce)试技术，但(dan)发展迅速，很多厂家(jia)都推出了AOI测(ce)试设备，欢迎来电咨询。珠海半导体AOI检测(ce)设备功能(neng)

如何根据(ju)AOI的(de)(de)(de)(de)(de)功(gong)(gong)(gong)能(neng)(neng)选(xuan)择设备(bei)1、分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)(de)(de)(de)(de)挑(tiao)选(xuan)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)辨(bian)率(lv)应以像(xiang)(xiang)元(yuan)的(de)(de)(de)(de)(de)尺度(du)(du)巨细作为判(pan)别的(de)(de)(de)(de)(de)条件，也就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)空间分(fen)辨(bian)率(lv)来衡(heng)量。像(xiang)(xiang)素(su)的(de)(de)(de)(de)(de)巨细不(bu)是(shi)判(pan)别AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)出(chu)才能(neng)(neng)的(de)(de)(de)(de)(de)标准(zhun)，准(zhun)确地(di)讲，像(xiang)(xiang)素(su)大是(shi)决议单位面(mian)积的(de)(de)(de)(de)(de)像(xiang)(xiang)元(yuan)尺度(du)(du)巨细的(de)(de)(de)(de)(de)因素(su)。假(jia)如单位面(mian)积不(bu)同(tong)，像(xiang)(xiang)素(su)再高也没有(you)可(ke)比性。比方一(yi)(yi)台(tai)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)FOV为12*16毫米，假(jia)如这台(tai)AOI选(xuan)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)30万(wan)像(xiang)(xiang)素(su)的(de)(de)(de)(de)(de)相机(ji)，那么这台(tai)AOI的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)辨(bian)率(lv)只有(you)25微(wei)米，它只能(neng)(neng)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)0402以上(shang)封(feng)装(zhuang)尺度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)(de)元(yuan)件。但假(jia)如这台(tai)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)选(xuan)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)200万(wan)像(xiang)(xiang)素(su)的(de)(de)(de)(de)(de)相机(ji)，那么这台(tai)AOI的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)辨(bian)率(lv)就(jiu)(jiu)(jiu)变为10微(wei)米，就(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)以检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)01005以上(shang)封(feng)装(zhuang)尺度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)(de)元(yuan)件。2、CAD的(de)(de)(de)(de)(de)挑(tiao)选(xuan)现在(zai)大多(duo)数AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)都有(you)CAD数据(ju)导入(ru)功(gong)(gong)(gong)用(yong)，但这一(yi)(yi)功(gong)(gong)(gong)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)运(yun)用(yong)，对器材较少的(de)(de)(de)(de)(de)PCBA板的(de)(de)(de)(de)(de)运(yun)用(yong)功(gong)(gong)(gong)率(lv)不(bu)是(shi)很(hen)好，而对元(yuan)器材较多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)PCBA板的(de)(de)(de)(de)(de)运(yun)用(yong)则能(neng)(neng)起到事半(ban)(ban)功(gong)(gong)(gong)倍的(de)(de)(de)(de)(de)效果。3、特别功(gong)(gong)(gong)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)挑(tiao)选(xuan)假(jia)如你要对多(duo)连板的(de)(de)(de)(de)(de)PCBA进行检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，就(jiu)(jiu)(jiu)一(yi)(yi)定要挑(tiao)选(xuan)有(you)跳板功(gong)(gong)(gong)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)，也就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)有(you)区域(yu)挑(tiao)选(xuan)功(gong)(gong)(gong)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)。假(jia)如你将AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)用(yong)作质量的(de)(de)(de)(de)(de)进程(cheng)操(cao)控(kong)，那么，你在(zai)挑(tiao)选(xuan)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)时，一(yi)(yi)定要挑(tiao)选(xuan)具(ju)(ju)有(you)RPC功(gong)(gong)(gong)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)(yi)(yi)(yi)，也就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)具(ju)(ju)有(you)实(shi)时工艺进程(cheng)操(cao)控(kong)的(de)(de)(de)(de)(de)AOI主(zhu)(zhu)动(dong)(dong)光(guang)(guang)学(xue)(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)珠海(hai)半(ban)(ban)导体AOI检(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)设备(bei)功(gong)(gong)(gong)能(neng)(neng)

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