硅光芯(xin)片(pian)耦合(he)(he)测试系统(tong)是一种(zhong)应用(yong)双(shuang)波(bo)(bo)长的(de)微(wei)波(bo)(bo)光子(zi)(zi)频(pin)率(lv)测量(liang)设(she)备,以(yi)及一种(zhong)微(wei)波(bo)(bo)光子(zi)(zi)频(pin)率(lv)测量(liang)设(she)备的(de)校(xiao)正方(fang)(fang)法(fa)和基于此设(she)备的(de)微(wei)波(bo)(bo)频(pin)率(lv)测量(liang)方(fang)(fang)法(fa)。在(zai)微(wei)波(bo)(bo)光子(zi)(zi)频(pin)率(lv)测量(liang)设(she)备中(zhong),本发(fa)明采(cai)(cai)用(yong)独特的(de)双(shuang)环耦合(he)(he)硅基光子(zi)(zi)芯(xin)片(pian)结构,可(ke)(ke)以(yi)形成两(liang)个不同深度的(de)透射(she)谱线。该(gai)系统(tong)采(cai)(cai)用(yong)一定的(de)校(xiao)准方(fang)(fang)法(fa),预先得(de)到(dao)微(wei)波(bo)(bo)频(pin)率(lv)和两(liang)个电光探测器光功率(lv)比(bi)值的(de)函数,测量(liang)过(guo)程中(zhong),得(de)到(dao)两(liang)个电光探测器光功率(lv)比(bi)值后,直(zhi)接采(cai)(cai)用(yong)查表法(fa)得(de)到(dao)微(wei)波(bo)(bo)频(pin)率(lv)。该(gai)系统(tong)将(jiang)多个光学(xue)器件集(ji)成在(zai)硅基光学(xue)芯(xin)片(pian)上(shang),从整(zheng)体上(shang)减(jian)小(xiao)了设(she)备的(de)体积(ji),提高系统(tong)的(de)整(zheng)体可(ke)(ke)靠性(xing)。聚合(he)(he)物将(jiang)其压在(zai)FA上(shang),使得(de)FA进入V槽中(zhong)。每个光纤(xian)(xian)的(de)位(wei)置(zhi)可(ke)(ke)以(yi)进行调整(zheng),光纤(xian)(xian)完全落入槽中(zhong),达到(dao)比(bi)较(jiao)好的(de)耦合(he)(he)效率(lv)。云南自动硅光芯(xin)片(pian)耦合(he)(he)测试系统(tong)机(ji)构

针对不同的硅(gui)光芯片(pian)结(jie)构,我们提出并且实验(yan)验(yan)证(zheng)了(le)(le)两款新型(xing)(xing)耦(ou)合(he)(he)(he)器(qi)(qi)以提高(gao)硅(gui)光芯片(pian)的耦(ou)合(he)(he)(he)效(xiao)(xiao)率(lv)。一(yi)款基于非均匀光栅(zha)的垂(chui)直(zhi)耦(ou)合(he)(he)(he)器(qi)(qi),在实验(yan)中,我们得到了(le)(le)超过60%的光纤-波(bo)导耦(ou)合(he)(he)(he)效(xiao)(xiao)率(lv)。此外(wai),我们还开发了(le)(le)一(yi)款用以实现(xian)硅(gui)条形波(bo)导和(he)(he)狭缝波(bo)导之(zhi)间高(gao)效(xiao)(xiao)耦(ou)合(he)(he)(he)的新型(xing)(xing)耦(ou)合(he)(he)(he)器(qi)(qi)应用的系统主要是硅(gui)光芯片(pian)耦(ou)合(he)(he)(he)测试系统,理论(lun)设计和(he)(he)实验(yan)结(jie)果都(dou)证(zheng)明该(gai)耦(ou)合(he)(he)(he)器(qi)(qi)可以实现(xian)两种波(bo)导之(zhi)间的无(wu)损光耦(ou)合(he)(he)(he)。为了(le)(le)消除硅(gui)基无(wu)源(yuan)器(qi)(qi)件(jian)明显(xian)的偏振(zhen)(zhen)相关(guan)性(xing),我们首(shou)先利用一(yi)种特(te)殊的三明治结(jie)构波(bo)导,通(tong)过优化多(duo)层结(jie)构,成功消除了(le)(le)一(yi)个超小型(xing)(xing)微环(huan)谐振(zhen)(zhen)器(qi)(qi)中心(xin)波(bo)长的偏振(zhen)(zhen)相关(guan)性(xing)。黑龙江硅(gui)光芯片(pian)耦(ou)合(he)(he)(he)测试系统多(duo)少钱通(tong)过高(gao)精度移动平台、隔振(zhen)(zhen)系统、亚(ya) 微米级人工智能算法识别旋转中心(xin),从而提高(gao)测试精确(que)度和(he)(he)效(xiao)(xiao)率(lv) 。

硅(gui)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)芯(xin)片(pian)(pian)耦(ou)(ou)合(he)(he)测(ce)试(shi)系统中(zhong)硅(gui)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)芯(xin)片(pian)(pian)与(yu)(yu)激(ji)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)封装(zhuang)结构,封装(zhuang)结构包括基(ji)(ji)(ji)座(zuo),基(ji)(ji)(ji)座(zuo)设(she)置与(yu)(yu)硅(gui)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)芯(xin)片(pian)(pian)连(lian)接(jie)的(de)(de)(de)(de)基(ji)(ji)(ji)座(zuo)贴合(he)(he)面(mian)(mian)(mian),与(yu)(yu)激(ji)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)芯(xin)片(pian)(pian)和一体(ti)(ti)化反(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)镜(jing)透镜(jing)连(lian)接(jie)的(de)(de)(de)(de)基(ji)(ji)(ji)座(zuo)上表面(mian)(mian)(mian);基(ji)(ji)(ji)座(zuo)设(she)置通(tong)孔(kong)(kong),通(tong)孔(kong)(kong)顶部(bu)开口(kou)与(yu)(yu)一体(ti)(ti)化反(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)镜(jing)透镜(jing)的(de)(de)(de)(de)出光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)面(mian)(mian)(mian)连(lian)接(jie),通(tong)孔(kong)(kong)底(di)部(bu)开口(kou)与(yu)(yu)硅(gui)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)芯(xin)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)栅耦(ou)(ou)合(he)(he)器(qi)(qi)(qi)表面(mian)(mian)(mian)连(lian)接(jie);激(ji)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)芯(xin)片(pian)(pian)靠近(jin)一体(ti)(ti)化反(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)镜(jing)透镜(jing)的(de)(de)(de)(de)入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)一端设(she)置高斯(si)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)束(shu)出口(kou);激(ji)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)芯(xin)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)高斯(si)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)束(shu)方向(xiang)水(shui)平(ping)射(she)(she)(she)(she)(she)入一体(ti)(ti)化反(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)镜(jing)透镜(jing)的(de)(de)(de)(de)入光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)面(mian)(mian)(mian),经一体(ti)(ti)化反(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)镜(jing)透镜(jing)的(de)(de)(de)(de)反(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)面(mian)(mian)(mian)折射(she)(she)(she)(she)(she)到一体(ti)(ti)化反(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)镜(jing)透镜(jing)的(de)(de)(de)(de)出光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)面(mian)(mian)(mian),穿过(guo)通(tong)孔(kong)(kong)聚(ju)焦到光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)栅耦(ou)(ou)合(he)(he)器(qi)(qi)(qi)表面(mian)(mian)(mian);基(ji)(ji)(ji)座(zuo)贴合(he)(he)面(mian)(mian)(mian)与(yu)(yu)基(ji)(ji)(ji)座(zuo)上表面(mian)(mian)(mian)延(yan)伸面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)夹角为a1。通(tong)过(guo)对基(ji)(ji)(ji)座(zuo)的(de)(de)(de)(de)底(di)部(bu)进(jin)行加工形(xing)成斜角,角度(du)的(de)(de)(de)(de)设(she)计满足(zu)耦(ou)(ou)合(he)(he)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)栅的(de)(de)(de)(de)较佳入射(she)(she)(she)(she)(she)角。

硅(gui)(gui)光(guang)(guang)芯(xin)片耦合(he)测(ce)(ce)试(shi)系(xi)(xi)统是(shi)比(bi)较(jiao)关键的(de)(de)，我们的(de)(de)客户(hu)非常(chang)关注此(ci)工位测(ce)(ce)试(shi)的(de)(de)严谨(jin)性(xing)，硅(gui)(gui)光(guang)(guang)芯(xin)片耦合(he)测(ce)(ce)试(shi)系(xi)(xi)统主要控制“信(xin)号弱”，“易掉话”，“找网(wang)慢(man)或不(bu)找网(wang)”，“不(bu)能接听(ting)”等不(bu)良机(ji)流(liu)向市场。一般模(mo)拟用户(hu)环境对(dui)设(she)备(bei)(bei)EMC干扰的(de)(de)方法(fa)与(yu)实际使(shi)用环境存(cun)在(zai)较(jiao)大差异，所以(yi)“信(xin)号类(lei)”返修量一直占有较(jiao)大的(de)(de)比(bi)例。可见，硅(gui)(gui)光(guang)(guang)芯(xin)片耦合(he)测(ce)(ce)试(shi)系(xi)(xi)统是(shi)一个(ge)需要严谨(jin)的(de)(de)关键岗位，在(zai)利用金机(ji)调好衰(shuai)减（即线(xian)损(sun)）之(zhi)(zhi)后，功(gong)率无(wu)法(fa)通(tong)过的(de)(de)，必须进行维修，而(er)不(bu)能随意(yi)的(de)(de)更改线(xian)损(sun)使(shi)其通(tong)过测(ce)(ce)试(shi)，因为比(bi)较(jiao)可能此(ci)类(lei)机(ji)型在(zai)开机(ji)界面显示(shi)(shi)满格信(xin)号而(er)在(zai)使(shi)用过程(cheng)中出现“掉话”的(de)(de)现象(xiang)，给设(she)备(bei)(bei)质(zhi)量和信(xin)誉带来负面影响。以(yi)上是(shi)整机(ji)耦合(he)的(de)(de)原理和测(ce)(ce)试(shi)存(cun)在(zai)的(de)(de)意(yi)义，也(ye)就是(shi)设(she)备(bei)(bei)主板在(zai)FT测(ce)(ce)试(shi)之(zhi)(zhi)后，还要进行组装硅(gui)(gui)光(guang)(guang)芯(xin)片耦合(he)测(ce)(ce)试(shi)系(xi)(xi)统的(de)(de)原因。IC测(ce)(ce)试(shi)架由多个(ge)模(mo)块(kuai)组成(cheng)，包括测(ce)(ce)试(shi)模(mo)块(kuai)、控制模(mo)块(kuai)、存(cun)储模(mo)块(kuai)以(yi)及测(ce)(ce)试(shi)结果显示(shi)(shi)模(mo)块(kuai)等。

目前,基(ji)于SOI(绝缘体(ti)上硅)材料(liao)的(de)波(bo)导调(diao)制器成为(wei)当(dang)前的(de)研究(jiu)热(re)点,也(ye)取得了(le)许(xu)多的(de)进(jin)展,但在(zai)硅光芯片(pian)(pian)(pian)调(diao)制器的(de)产业化进(jin)程中,面临着一系列的(de)问(wen)题,波(bo)导芯片(pian)(pian)(pian)与光纤的(de)有(you)效(xiao)耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)就(jiu)(jiu)是难题之一。从悬臂(bei)型耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)结(jie)构(gou)出发,模(mo)拟设(she)计了(le)悬臂(bei)型倒(dao)锥耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)结(jie)构(gou),通(tong)过开发相(xiang)应的(de)有(you)效(xiao)地耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)工(gong)艺(yi)来实(shi)现耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)实(shi)验(yan),验(yan)证了(le)该(gai)结(jie)构(gou)良好的(de)耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)效(xiao)率。在(zai)这个基(ji)础之上,对硅光芯片(pian)(pian)(pian)调(diao)制器进(jin)行(xing)耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)封装,并对封装后的(de)调(diao)制器进(jin)行(xing)性(xing)能测(ce)(ce)试(shi)分(fen)析。主要研究(jiu)基(ji)于硅光芯片(pian)(pian)(pian)调(diao)制技术的(de)硅基(ji)调(diao)制器芯片(pian)(pian)(pian)的(de)耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)封装及测(ce)(ce)试(shi)技术其实(shi)就(jiu)(jiu)是硅光芯片(pian)(pian)(pian)耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)测(ce)(ce)试(shi)系统。IC测(ce)(ce)试(shi)架可以测(ce)(ce)试(shi)多种(zhong)集(ji)成电路。甘肃自动(dong)硅光芯片(pian)(pian)(pian)耦(ou)(ou)(ou)合(he)(he)测(ce)(ce)试(shi)系统生产厂家

硅光芯片耦(ou)合测试系(xi)统(tong)(tong)的优点：稳定。云(yun)南自动硅光芯片耦(ou)合测试系(xi)统(tong)(tong)机构

硅(gui)光(guang)(guang)芯(xin)(xin)片(pian)耦(ou)(ou)合(he)测(ce)试系统中的(de)硅(gui)光(guang)(guang)与(yu)芯(xin)(xin)片(pian)的(de)耦(ou)(ou)合(he)方(fang)法及(ji)其硅(gui)光(guang)(guang)芯(xin)(xin)片(pian),方(fang)法包括(kuo)以下步骤:1、使用微(wei)调(diao)架(jia)将光(guang)(guang)纤(xian)(xian)端(duan)(duan)(duan)面与(yu)模(mo)斑(ban)变换器区域精确对准(zhun),调(diao)节至合(he)适(shi)耦(ou)(ou)合(he)间(jian)距后采用紫(zi)外胶将光(guang)(guang)纤(xian)(xian)分别与(yu)固定块和(he)垫块粘接固定;2、将硅(gui)光(guang)(guang)芯(xin)(xin)片(pian)粘贴固定在(zai)基板(ban)上,硅(gui)光(guang)(guang)芯(xin)(xin)片(pian)的(de)端(duan)(duan)(duan)面耦(ou)(ou)合(he)波导为悬臂梁结(jie)构(gou),具有模(mo)斑(ban)变换器;通过图(tu)像(xiang)系统,微(wei)调(diao)架(jia)将光(guang)(guang)纤(xian)(xian)端(duan)(duan)(duan)面与(yu)耦(ou)(ou)合(he)波导的(de)模(mo)斑(ban)变换器耦(ou)(ou)合(he)对准(zhun),固定块从侧面紧(jin)挨光(guang)(guang)纤(xian)(xian)并(bing)固定在(zai)基板(ban)上;3、硅(gui)光(guang)(guang)芯(xin)(xin)片(pian)的(de)输入端(duan)(duan)(duan)和(he)输出(chu)端(duan)(duan)(duan)分别粘贴垫块并(bing)支撑光(guang)(guang)纤(xian)(xian)未剥除涂覆层的(de)部分。云南自动硅(gui)光(guang)(guang)芯(xin)(xin)片(pian)耦(ou)(ou)合(he)测(ce)试系统机构(gou)

本文来自东莞富发玻璃制品有限公司：//diyijian.cn/Article/80b66999250.html